Các vấn đề liên quan đến điện áp
Điện áp không nhất quán hoặc mức thấp riêng lẻ
Tự xả cao: Một số cell pin có tốc độ tự xả cao hơn các cell khác, dẫn đến sụt giảm điện áp nhanh hơn sau khi để không tải.
Sạc không đều: Trong quá trình sạc, sự khác biệt về điện trở tiếp xúc hoặc phát hiện dòng điện không nhất quán trong tủ sạc dẫn đến trạng thái sạc không đồng đều giữa các cell pin, gây ra chênh lệch điện áp đáng kể sau thời gian dài lưu trữ.
Giải pháp: Lưu trữ pin đã sạc hơn 24 giờ trước khi đo điện áp trong quá trình sản xuất, và sàng lọc các cell điện áp thấp để sạc lại hoặc thay thế.
Bất thường quá áp hoặc quá sạc
Lỗi mạch bảo vệ hoặc trục trặc thiết bị đo gây ra điện áp sạc vượt quá 5V, dẫn đến phân hủy chất điện phân, phát sinh khí và thậm chí gây nổ.
Chức năng cân bằng của LMU (Bộ quản lý pin) bị lỗi, ngăn cản việc điều chỉnh điện áp của từng cell, dẫn đến điện áp của một số cell tăng liên tục.
B. Vấn đề điện trở trong bất thường
Điện trở trong cao hơn bình thường
Độ chính xác của thiết bị đo không đủ hoặc không loại bỏ được điện trở tiếp xúc dẫn đến giá trị đo cao giả, cần sử dụng thiết bị dựa trên nguyên lý cầu AC để kiểm tra.
Nếu cell pin được lưu trữ trong thời gian dài, nó có thể bị thụ động hóa bên trong và mất dung lượng, có thể phục hồi thông qua kích hoạt sạc-xả.
Quy trình xử lý gây tăng điện trở trong
Hàn điểm, xử lý siêu âm và các thao tác khác gây nóng bất thường cho cell pin, dẫn đến đóng kín bộ phân tách và làm tăng đáng kể điện trở trong.
C. Các vấn đề cơ khí và cấu trúc
Rủi ro đoản mạch
Các gờ nhọn ở trụ xuyên qua bộ phân tách, sai lệch điện cực hoặc lắp ráp lỏng lẻo đều có thể dẫn đến đoản mạch bên trong, ảnh hưởng đến điện áp hở mạch.
Vị trí hàn điểm không chính xác hoặc khả năng hàn kém của dải niken yêu cầu hàn dòng điện cao, dễ làm thủng bộ phân tách và gây đoản mạch bên trong.
Phồng pin
Phồng trong quá trình sạc: Sạc bình thường gây phồng nhẹ (≤0.1mm), nhưng quá sạc dẫn đến phân hủy chất điện phân và tăng áp suất bên trong, gây phồng rõ rệt.
Phồng theo chu kỳ: Khi số chu kỳ tăng lên, độ dày tăng dần, đặc biệt rõ rệt ở pin vỏ nhôm, với mức tăng từ 0.3 đến 0.6mm thường nằm trong phạm vi bình thường.
D. Rủi ro an toàn và chạy trốn nhiệt
Nguy cơ chạy trốn nhiệt
Quá sạc, quá xả, đoản mạch hoặc hư hỏng cơ học có thể kích hoạt phản ứng dây chuyền của các quá trình tỏa nhiệt, dẫn đến pin quá nóng, cháy hoặc thậm chí nổ.
Các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm phải được thực hiện dưới thiết bị chống cháy nổ, chẳng hạn như sử dụng bình áp suất chạy trốn nhiệt cho cell pin để đảm bảo an toàn.
Lựa chọn phương pháp chữa cháy không phù hợp
Mặc dù bình chữa cháy bột khô có thể tạm thời dập tắt ngọn lửa, nhưng chúng không thể ngăn chặn năng lượng thoát ra từ bên trong pin, và nhiệt độ bề mặt vẫn có thể vượt quá 190°C.
Một phương pháp hiệu quả hơn là ngâm trong nước, có thể giảm nhiệt độ bề mặt xuống dưới 60°C trong vòng 90 giây và phục hồi trở kháng giao diện pin.
E. Các vấn đề về quy trình kiểm tra và quản lý dữ liệu
Kiểm soát nhiệt độ không phù hợp
Hiệu suất của pin lithium nhạy cảm với nhiệt độ, và việc không kiểm soát chính xác nhiệt độ trong quá trình kiểm tra có thể dẫn đến sai lệch dữ liệu.
Khuyến nghị thực hiện các bài kiểm tra cơ bản trong môi trường tiêu chuẩn 20±5°C, trong khi các bài kiểm tra điều kiện khắc nghiệt yêu cầu cài đặt nghiêm ngặt các thông số của tủ ấm.
Thách thức thu thập và phân tích dữ liệu
Kiểm tra quy mô lớn tạo ra lượng dữ liệu khổng lồ, đòi hỏi các hệ thống thu thập dữ liệu và công cụ phân tích hiệu quả để trích xuất các xu hướng chính và các điểm bất thường.
Bảo mật dữ liệu cũng phải được ưu tiên để ngăn chặn rò rỉ thông tin R&D nhạy cảm.
Bảo trì thiết bị kiểm tra không đầy đủ
Không hiệu chuẩn hoặc bảo trì thiết bị thường xuyên có thể dẫn đến các vấn đề như lỗi điều khiển dòng điện và đo lường không chính xác, làm ảnh hưởng đến độ tin cậy của kết quả kiểm tra.